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  • AccuSizer 780 A7000 APS大乳粒分析儀
    大乳粒分析儀工作原理：單顆粒光學傳感技術（Single Particle Optical Sizing，SPOS）,檢測范圍： 0.5 μm – 400 μm
    更新時間：2024-08-26型號：AccuSizer 780 A7000 APS
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  • PSS光阻法粒度儀
    PSS光阻法粒度儀：專為復雜體系提供高精度粒度解析方案，工作原理：動態光散射（Dynamic Light Scattering, DLS），檢測范圍：0.3nm-10.0μm。
    更新時間：2024-08-26型號：
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  • Nicomp Z3000 ZetaZETA電位分析儀
    ZETA電位分析儀工作原理： 粒度檢測： 動態光散射（Dynamic Light Scattering, DLS） Zeta電位檢測：帶相位分析的多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phase analyze, DELS with PALS）
    更新時間：2024-08-26型號：Nicomp Z3000 Zeta
    現在聯系
  • Nicomp 380 N3000納米激光粒度儀
    納米激光粒度儀：專為復雜體系提供高精度粒度解析方案，工作原理：動態光散射（Dynamic Light Scattering, DLS），檢測范圍：0.3nm-10.0μm。
    更新時間：2024-08-26型號：Nicomp 380 N3000
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  • Nicomp Z3000 ZetaZeta電位與粒徑分析儀
    專為復雜體系提供高精度粒度解析 儀器型號：Nicomp Z3000 Zeta電位/納米粒度分析儀 工作原理： 粒度檢測： 動態光散射（Dynamic Light Scattering, DLS） Zeta電位檢測：帶相位分析的多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phase analyze, DELS with PALS）
    更新時間：2024-08-26型號：Nicomp Z3000 Zeta
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