Zeta電位及粒度分析儀是材料科學、生物醫藥、化工及環境工程等領域中用于表征微粒分散體系穩定性的關鍵儀器。它能夠同時測量顆粒的粒徑分布和表面電荷特性（Zeta電位），為評估懸浮液、乳液及膠體的穩定性提供重要數據支持，是研發和質量控制環節的分析手段。

　　一、主要用途

　　1.膠體穩定性評估：通過測量Zeta電位判斷分散體系的穩定性。通常Zeta電位絕對值越大（一般大于±30mV），顆粒間靜電斥力越強，體系越不易發生團聚或沉降。

　　2.粒徑分布分析：精確測定納米至微米級顆粒的粒徑大小及其分布范圍，廣泛應用于藥物遞送系統（如脂質體）、顏料、陶瓷漿料及水處理絮凝劑的研究。

　　3.配方優化與工藝控制：在產品開發過程中，幫助研究人員篩選最佳的pH值、離子強度或添加劑濃度，以優化產品性能；在生產線上監控批次間的一致性。

　　4.表面改性效果驗證：評估顆粒表面包覆、修飾或吸附處理后表面電荷的變化，驗證改性工藝是否達到預期目標。
 

　　二、工作原理

　　該儀器主要基于兩種經典的光學物理原理：

　　1.動態光散射（DLS）測粒度：利用激光照射懸浮顆粒，顆粒在液體中進行布朗運動，導致散射光強隨時間波動。通過分析光強波動的自相關函數，計算出顆粒的擴散系數，再依據斯托克斯-愛因斯坦方程推導出顆粒的流體力學直徑。

　　2.電泳光散射（ELS）測Zeta電位：在樣品池兩端施加電場，帶電顆粒會在電場作用下發生定向移動（電泳）。儀器利用激光多普勒測速技術測量顆粒的電泳遷移率，結合亨利方程（Henry Equation）及介質的粘度和介電常數，計算出Zeta電位?，F代儀器通常采用相位分析光散射（PALS）技術，以提高低遷移率樣品測量的靈敏度和準確性。

　　三、使用注意事項

　　1.樣品制備要求：樣品必須具有良好的分散性，避免大顆粒團聚或沉淀。測試前需根據樣品性質選擇適當的分散介質，并可能需要超聲處理或添加分散劑。樣品濃度需適中，過高會導致多重散射，過低則信號太弱，通常需稀釋至透光率在儀器推薦范圍內。

　　2.氣泡與雜質干擾：樣品池中嚴禁存在氣泡，氣泡會嚴重干擾光路導致數據異常。注入樣品時應緩慢操作，必要時靜置消泡。同時，需確保樣品無塵，微小灰塵會被誤判為大顆粒，影響粒徑結果。

　　3.溫度控制：溫度和粘度直接影響布朗運動和電泳遷移率。測試時必須設定準確的溫度，并確保儀器溫控系統已達到平衡狀態。對于溫度敏感的樣品，需特別注意升溫對穩定性的影響。

　　4.電極維護與清洗：測量Zeta電位使用的折疊毛細管池或平板池含有電極，測試后必須立即用去離子水或適當溶劑徹底清洗，防止樣品殘留腐蝕電極或堵塞流道。長期不用時應保持干燥或按說明書保存。

　　5.參數設置合理性：根據樣品材質選擇合適的折射率和吸收率參數，這對于粒徑計算的準確性至關重要。對于高鹽濃度樣品，需注意電導率過高可能引起的焦耳熱效應，必要時降低電壓或縮短測量時間。

　　正確掌握Zeta電位及粒度分析儀的使用技巧，不僅能獲得準確可靠的實驗數據，還能有效延長儀器壽命，為科研和生產提供有力的數據支撐。